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  • NGI恩智N8130超高采樣率充放電測試卡
    NGI恩智N8130超高采樣率充放電測試卡

    更新時(shí)間:2023-12-06

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    NGI恩智N8130超高采樣率充放電測試卡 超高采樣率,超快響應速度,超級電容測試bi備 N8130充放電測試卡為NGI公司針對超級電容、電池研發(fā)和生產(chǎn)而自主設計開(kāi)發(fā)的新一代專(zhuān)用測試儀器。采樣速度高達1mS,充轉放過(guò)程無(wú)縫切換,N8130*超級電容、電池充電容量、放電容量、充電等效串聯(lián)內阻、放電等效串聯(lián)內阻、能量轉換效率、循環(huán)壽命等電氣參數進(jìn)行高精度測試測量。
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  • NGI恩智N8100A 多通道充放電測試卡
    NGI恩智N8100A 多通道充放電測試卡

    更新時(shí)間:2023-12-06

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    NGI恩智N8100A 多通道充放電測試卡 高集成度超級電容全參數測試 N8100A多通道充放電測試卡,提供超級電容全參數測試多種測試方法,用戶(hù)可根據需要靈活選擇。N8100A上位機軟件支持平臺化測試應用,用戶(hù)可根據測試工藝和測試流程自行定制測試文件,測試結果可方便存儲和導出。導出格式可支持數據庫、EXCEL、JPG文件。適用于超級電容器研發(fā)、生產(chǎn)與品質(zhì)檢測。
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